光学相干层析成像系统中双通快速扫描光学延迟线的数值分析

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光学相干层析成像系统中双通快速扫描光学延迟线的数值分析

篇1:光学相干层析成像系统中双通快速扫描光学延迟线的数值分析

光学相干层析成像系统中双通快速扫描光学延迟线的数值分析

以matlab为工具,详尽分析双通快速扫描光学延迟线在最佳耦合条件下的光束传输与分布,为双通快速扫描光学延迟线的设计、元件选择和系统调整提供理论依据.得出离焦距离Δf=1 μm和Δf=578 μm两个理论上的最佳耦合点.但就实际光路调试来看,离焦距离Δf=1 μm为此系统的'最佳耦合点.

作 者:黄丽娜 俞晓峰 丁志华 Huang Li'na Yu Xiaofeng Ding Zhihua  作者单位:浙江大学光电系现代光学仪器国家重点实验室,杭州,310027 刊 名:光子学报  ISTIC PKU英文刊名:ACTA PHOTONICA SINICA 年,卷(期): 34(11) 分类号:Q631 关键词:生物医学成像   光学相干层析成像   快速扫描光学延迟线   最佳耦合  

篇2:三维光学扫描测量系统在产品快速设计及制造中的应用

三维光学扫描测量系统在产品快速设计及制造中的应用

介绍了一种三维光学扫描测量系统的.组成、原理、特点、测量方法和应用,它主要是综合运用了数字图像处理技术、摄影测量技术和光栅测量技术,来快速、准确地测量三维实物表面的几何数据,为产品的快速设计和制造提供了一种快捷的方法.

作 者:苏发 牛曙光 孙洪江 SU Fa NIU Shu-guang SUN Hong-jiang  作者单位:黑龙江科技学院机械工程学院,哈尔滨,150027 刊 名:机床与液压  ISTIC PKU英文刊名:MACHINE TOOL & HYDRAULICS 年,卷(期):2005 “”(7) 分类号:V556.5 关键词:ATOS扫描仪   摄影测量   光栅测量   产品快速设计  

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光学相干层析成像系统中双通快速扫描光学延迟线的数值分析(整理2篇)

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